FGA 알고리즘을 이용하는 서열 유사도 측정 시스템 및 이를 이용한 서열 유사도 측정 방법

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Title
FGA 알고리즘을 이용하는 서열 유사도 측정 시스템 및 이를 이용한 서열 유사도 측정 방법
Alternative Title
sequence likelihood ratio measurement system using Fast Global Alignmer algorith and sequence likelihood ratio measurement system using the same
Inventor(s)
김태경; 김경모; 허보경; 이상혁
Application No.
10-2012-0095457
Registration No.
10-1479735-0000
Publisher
한국생명공학연구원
Abstract
FGA 알고리즘이 적용된 서열(sequence) 유사도 측정 시스템 및 이를 이용한 서열(sequence) 유사도 측정 방법을 개시한다. 상기 FGA 알고리즘이 적용된 서열(sequence) 유사도 측정 시스템을 이용한 서열(sequence) 유사도 측정 방법은 데이터 베이스로부터 복수 개의 서열(sequence) 집합 데이터들 중 2개의 서열(sequence) 데이터들 및 외부로부터 기설정된 기준값 데이터를 입력받은 후, 상기 2개의 서열(sequence) 데이터들의 서열(sequence) 쌍에 따라 프로세서에서 분류하는 제1 단계
상기 제1 단계 이후, k-mer 알고리즘이 적용된 상기 프로세서에서 상기 2개의 서열(sequence) 데이터들의 서열(sequence) 쌍의 k-mer 거리를 계산한 제1 결과값을 추출하는 제2 단계
상기 제2 단계 이후, 상기 제1 결과갑 중 상기 기준 데이터의 이상인 제2 결과값을 상기 프로세서에서 추출하는 제3 단계
및 처리부에서 상기 제3 단계의 결과값을 정렬화하여, 병렬화 처리하는 제4 단계를 포함한다.
Type
Patent
Full Text Link
http://link.kipris.or.kr/link/main/FullDoc.jsp?reg_key=4jLn6RaAi84A7NL71xinaQ%3D%3D=&APPLNO=1020120095457
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